Geçirimli Elektron Mikroskobu

Transmission Electron Microscope (TEM)

FEI TECNAI G2 S-TWIN

Elektron Kaynağı             :LaB6’ flamanlı
Yüksek Gerilim                : 120 kV – 200 kV

Çözünürlük                      : 0.2 ± 0.04 nm
Sayısal Görüntü               : 2K x 2K CCD

Örnek TEM görüntüleri için tıklayınız

Çalışma Prensibi:
Yüksek potansiyel farkı altında hızlandırılmış elektronlar numune hazırlama koşullarına göre hazırlanmış yeterince geçirgen malzemeden geçerek, objektif ve projeksiyon lensler ile floresans ekrana malzemenin büyütülmüş görüntüsünü oluşturur. Yüksek büyütmedeki numune görüntüsü  CCD kameraya aktarılarak  görüntü bilgisayara işlenir.

TEM’de incelenen numuneler:
Nanoparçacık
Karbon nanotüp
Nanoplaka
Nanofiber
Polimer malzemeler
Nanosünger
Bakteriyofaj
Polimerik-RNA
Toz numuneler, ultrasonik banyo ile uygun solüsyonlar içerisine dağıtılarak süspansiyon formları elde edilir. Karışım mikropipet yardımı ile uygun kaplamalı gridler üzerine ~ 10μl damlatılarak  kurutulmaya bırakılır. Süspansiyon halinde hazırlanabilen numuneler incelenebilmektedir.