Geçirimli Elektron Mikroskobu

Transmission Electron Microscope (TEM)

       FEI TECNAI G2 S-TWIN

 

      Elektron Kaynağı             :LaB6’ flamanlı
      Yüksek Gerilim                : 120 kV – 200 kV
      Çözünürlük                      : 0.2 ± 0.04 nm
      Sayısal Görüntü               : 2K x 2K CCD

Örnek TEM görüntüleri için tıklayınız

 

Çalışma Prensibi:

Yüksek potansiyel farkı altında hızlandırılmış elektronlar numune hazırlama koşullarına göre hazırlanmış yeterince geçirgen malzemeden geçerek, objektif ve projeksiyon lensler ile floresans ekrana malzemenin büyütülmüş görüntüsünü oluşturur. Yüksek büyütmedeki numune görüntüsü  CCD kameraya aktarılarak  görüntü bilgisayara işlenir.

TEM’de incelenen numuneler:

Nanoparçacık

Karbon nanotüp

Nanoplaka

Nanofiber

Polimer malzemeler

Nanosünger

Bakteriyofaj

Polimerik-RNA

Toz numuneler, ultrasonik banyo ile uygun solüsyonlar içerisine dağıtılarak süspansiyon formları elde edilir. Karışım mikropipet yardımı ile uygun kaplamalı gridler üzerine ~ 10μl damlatılarak  kurutulmaya bırakılır. Süspansiyon halinde hazırlanabilen numuneler incelenebilmektedir.